scinexx | Mit Antiteilchen auf Fehlersuche: Messtechnik zeigt Defekte auf atomarer Ebene an - Antiteilchen, Elektronen, Positronen, Atome, Nanotechnologie, Halbleiter, Teilchen, Atomgitter, Materialforschung

Samstag, 11.02.2012

Mit Antiteilchen auf Fehlersuche

Messtechnik zeigt Defekte auf atomarer Ebene an

In der Probenkammer der Positronenquelle NEPOMUC an der Forschungs-Neutronenquelle Heinz Maier-Leibnitz (FRM II) der TU Muenchen wird der Positronenstrahl im Ultrahochvakuum auf die Oberflaeche einer Probe fokussiert

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